2018 / 2019

Workshop sur le test de carte via Boundary Scan JTAG

Demi-journée de découverte et de travaux pratiques sur le Test Boundary Scan / JTAG organisée tous les mois, avec notre partenaire XJTAG qui fournit les outils de développement (logiciels + sonde USB-JTAG) et les cartes de démonstration. Le séminaire est gratuit et se déroule dans nos locaux à Paris près de Nation (ou sur site client à la demande). Chaque participant doit amener un PC portable avec OS Windows et les droits administrateur pour installer les logiciels nécessaires.

Atelier gratuit test Boundary Scan JTAG

  • Intervenant

    Ingénieur Cynetis
  • Langue

    Français
  • Public visé

    Techniciens & Ingénieurs en conception/test électronique
  • Lieu

    Cynetis Embedded, 76 rue des Grands Champs, 75020 PARIS
  • Dates

    Voir le planning au lien suivant : CALENDRIER
Possibilité d’organisation de ce workshop sur site client dans toute la France si participation aux frais
(nous contacter pour plus d'informations)

Agenda Séminaire

  • 13:30 | Accueil
  • Café et tour de table
  • Vérification/Installation des outils de développement XJTAG
  • 14:00 | Introduction sur le JTAG, Boundary Scan et la norme IEEE 1149.x 30 minutes
  • Historique
  • Tendances
  • Possibilités techniques
  • Approche « Design for Test » (DFT)
  • 15:00 | Aperçu général des outils XJTAG 30 minutes
  • Caractéristiques des sondes JTAG
  • Outil d’analyse graphique de la chaine JTAG
  • Licence d’exécution sur banc de production
  • Outil de développement et mise au point des tests
  • 15:30 | Travaux Pratiques sur carte d'évaluation 2 à 3 heures
  • Mise en place progressive d’un test boundary scan complet
  • Test d’infrastructure (CheckChain)
  • Test d’interconnections (Connection Test)
  • Tests fonctionnels bas niveau (Test Mémoires, I2C/SPI, LEDs, Bouttons...)
  • Questions / Réponses & Fin du séminaire