Cynetis et son partenaire XJTAG participent à la prochaine journée "ZUKEN Innovation World" le 6 juin 2019 à Paris-Massy
Démonstration de test de carte électronique par JTAG Boundary Scan, et mise en avant de l'intégration possible entre les outils XJTAG et les outils de conception ZUKEN pour identifier les problèmes de testabilité en amont.
L'interface Assistant DFT XJTAG® pour CR-8000™ Design Gateway de Zuken® permet aux ingénieurs de détecter et de corriger les erreurs JTAG sur les cartes électroniques au stade de la conception, c’est-à-dire avant même l'arrivée premiers prototypes. Du fait de leur type de boitier (comme par exemple les BGA), de nombreux circuits intégrés sont inaccessibles aux sondes de test par contact physique, aussi, ne pas fournir l’accès JTAG à ces puces pourrait entraîner des reprises coûteuses de la carte, ainsi que du retard sur les projets en cours. L’Assistant DFT XJTAG vous aide à valider la mise en œuvre correcte des chaînes « boundary-scan », ainsi que la conformité avec les bonnes pratiques de conception en matière de test JTAG.
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Dates
Jeudi 6 juin 2019